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Showing papers on "Digital image correlation published in 1987"


Journal ArticleDOI
TL;DR: In this article, a method of determining stress intensity factors using digital image correlation is presented, and the experimental and analytical method is described with results for different specimen geometries given.

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01 Jul 1987
TL;DR: In this article, the Vander Lugt matched spatial filter technique is used for real-time image correlation and the correlation output, a focused beam of light, is imaged onto a CMOS photodetector array.
Abstract: The design and development of a miniaturized optical processor that performs real time image correlation are described. The optical correlator utilizes the Vander Lugt matched spatial filter technique. The correlation output, a focused beam of light, is imaged onto a CMOS photodetector array. In addition to performing target recognition, the device also tracks the target. The hardware, composed of optical and electro-optical components, occupies only 590 cu cm of volume. A complete correlator system would also include an input imaging lens. This optical processing system is compact, rugged, requires only 3.5 watts of operating power, and weighs less than 3 kg. It represents a major achievement in miniaturizing optical processors. When considered as a special-purpose processing unit, it is an attractive alternative to conventional digital image recognition processing. It is conceivable that the combined technology of both optical and ditital processing could result in a very advanced robot vision system.

4 citations


Journal ArticleDOI
TL;DR: CCDカメラを追加的に組込んだ�’準のプラニコンプシステムは, ホストコンピュータへ転送するために一対の写真の部分的にデジタイズした小地域を使っている。
Abstract: カールツァイスは, 自動車の車体のような工業製品の表面を, ほとんど自動的に測定するためのシステムを開発した。CCDカメラを追加的に組込んだ標準のプラニコンプシステムは, ホストコンピュータへ転送するために一対の写真の部分的にデジタイズした小地域を使っている。通常, 工業製品は色彩が一様であるため, 十分に表面構造をとらえることができないので, 部分的に人工的な表面構造を作るためにレーザー投影を用いた。強力なアズゴリズムをもとにしたディジタルな合致処理は, 一対の写真に対応する点を自動的に検出することにより, 表面のディジタルで客観的なモデルが測定できる。このようなシステムは, 特に大量の点を測定するときにオペレータの作業量をかなり補助できることが期待できる。さらにこのシステムは, 工業製品の三次元測定へのべつなアプローチでもあり, 測定機械のよくしられた座標系で求めることができる。

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